思儀6433P光波元件分析儀產(chǎn)品簡介

6433P光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調(diào)制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，具有對(duì)數(shù)/線性幅度、相位、群時(shí)延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，能夠精確測量光電網(wǎng)絡(luò)的幅/相頻特性，主要應(yīng)用于高速電光器件（電光強(qiáng)度調(diào)制器、直接調(diào)制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（探測器、光發(fā)射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時(shí)延等頻響參數(shù)的測試。

典型應(yīng)用

單端光器件測試

針對(duì)電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對(duì)象的各頻點(diǎn)反射和傳輸特性；針對(duì)光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評(píng)估器件的頻響特性；針對(duì)光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試，可快速實(shí)現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測量。

利用儀器提供的多種顯示模式,可實(shí)現(xiàn)相位、群時(shí)延等信息的顯示，可快速實(shí)現(xiàn)相頻特性等指標(biāo)的測量。

平衡光器件測試

光波元件分析儀通過配置四端口機(jī)型，實(shí)現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對(duì)差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測量場合。

光芯片在片測試

6433P光波元件分析儀搭配探針臺(tái)及高頻探針，可實(shí)現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。

自動(dòng)化測試

6433P光波元件分析儀提供標(biāo)準(zhǔn)的SCPI程控指令集，方便用戶進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實(shí)現(xiàn)一體化的自動(dòng)測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統(tǒng)。

思儀6433P光波元件分析儀技術(shù)指標(biāo)