同軸一體式、多路激發(fā)探測LIBS光譜探頭

型號：同軸一體式LIBS光譜探頭，多路激發(fā)探測LIBS光譜探頭

同軸一體式LIBS光譜探頭的設(shè)計集激光發(fā)射、光譜收集于一體，結(jié)構(gòu)緊湊，操作簡便，適用于快速、精確的元素分析。而多路激發(fā)探測LIBS光譜探頭則擁有多個激光激發(fā)通道，能夠同時探測多個目標(biāo)點(diǎn)，大大提高分析效率。

兩款探頭均具備高靈敏度、高分辨率的特點(diǎn)，無論是微量元素的檢測還是復(fù)雜樣品的分析，都能準(zhǔn)確捕捉光譜信息，適用于環(huán)境監(jiān)測、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域。萊森光學(xué)LIBS光譜探頭，以優(yōu)良的技術(shù)和穩(wěn)定的性能，助力科研與工業(yè)應(yīng)用，為用戶的光譜分析提供有力支持。

LIBS光譜探頭技術(shù)優(yōu)勢特點(diǎn)：

同軸一體式LIBS光譜探頭采用同軸設(shè)計，即激光發(fā)射和光譜收集的光路在同一直線上，使得設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊，操作簡便。

多路激發(fā)探測LIBS光譜探頭具備多個激光激發(fā)通道和相應(yīng)的光譜探測通道，能夠同時或分時地對多個目標(biāo)點(diǎn)或區(qū)域進(jìn)行LIBS分析。

LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜學(xué)）光譜探頭是LIBS系統(tǒng)的重要組成部分，負(fù)責(zé)產(chǎn)生激光并收集等離子體發(fā)出的光譜信號。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于材料分析、環(huán)境監(jiān)測、地質(zhì)調(diào)查等領(lǐng)域。

同軸一體式、多路激發(fā)探測LIBS光譜探頭廣泛的應(yīng)用：

l                      材料科學(xué)：分析金屬、合金、陶瓷等材料的成分，評估材料性能。

l                      環(huán)境監(jiān)測：檢測水體、土壤和空氣中的重金屬和其他污染物。

l                      地質(zhì)學(xué)：對開采礦石、巖土樣品進(jìn)行元素分析，助力礦產(chǎn)資源勘探。

l                      故障診斷：在航空、航天等高技術(shù)領(lǐng)域，檢測材料中的缺陷和污染物。

l                      工業(yè)應(yīng)用：原材料成分檢測、過程監(jiān)控和最終產(chǎn)品質(zhì)量控制。