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天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀 天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀是一款全新上照式多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。
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更新日期
2024-11-27 - 02
廠商性質
經銷商 - 03
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